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Comet Yxlon開發(fā)了CTScan 3線探測器陣列（LDA），以滿足客戶的特殊要求和具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用。憑借其前未有的信噪比、動態(tài)范圍和 254 μm 的像素間距，它是對大型和/或密集組件進(jìn)行清晰檢測的解決方案。它設(shè)計用于高達(dá) 600 kV 的工作電壓，可減少不必要的散射輻射，并提供低噪聲電子設(shè)備和高效閃爍體。

UNECS系列是可以高速、高精度測量薄膜膜厚和折射率的分光橢偏儀。采用的測量方式，實現(xiàn)了高速測量和機體的小型化。 我們的產(chǎn)品陣容包括便攜式，自動式和對應(yīng)真空環(huán)境的設(shè)備內(nèi)置式類型。

SE 401adv 通過映射高達(dá) 200 毫米的液體單元、用于原位測量的液體單元、攝像機、自動對焦、模擬軟件和經(jīng)過認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)晶圓，可根據(jù)您的需求進(jìn)行調(diào)整。

SENTECH SER 800 PV光譜橢偏儀符合PERC、TOPCON、HJT和鈣鈦礦技術(shù)等新型太陽能電池技術(shù)的研發(fā)要求。它操作簡單，具有高測量靈敏度、去偏振校正和特殊的聚光光學(xué)元件，使其成為在粗糙樣品表面上進(jìn)行光伏應(yīng)用的理想工具

多角度激光橢偏儀 SE 400adv PV 在 HeNe 激光波長為 632.8 nm 時，在紋理單晶和多晶硅片上提供抗反射單膜的膜厚度和折射率?？筛鼡Q晶圓支架允許在多晶硅片和堿性紋理單晶硅片上進(jìn)行測量。

SENTECH RM 1000 QC反射儀設(shè)計用于快速簡單地測量透明或吸收基材上的透明和半透明薄膜的厚度，用于工業(yè)生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制。該工具涵蓋 20 nm 至 50 μm 的膜厚范圍，可用于 100 μm 的測試圖案。